上海纳微科技今日宣布全新EMean E9T无移位相机阵列成功上线并在第45届shenzhen LED展示会首发。EMean E9T是一款采用全新EMean技术打造的革新性LED外观检测方案，涵盖发光芯片、LED模组、小间距显示屏的外观缺陷检测。严格按照国际标准进行测试，EMean E9T具备高稳定性、高精度、高速度和高灵敏度等优秀特点。
EMean E9T内部装有32颗CMOS图像传感器，通过光电转换模块将检波信号转化为电信号，相继转化为数字信号并输出到启用后的计算机上。EMean E9T通过对计算机算法的升级和图像处理的增强，针对不规则和曲面特征进行了优化，更好地提高了检测精度和鲁棒性。
EMean E9T的推出，标志着纳微科技在LED空间检测领域又取得了显著进展和突破。纳微科技将一如既往贯彻做技术领先、服务卓越的发展理念，进一步推进企业发展，为LED外观检测领域提供更加先进的技术解决方案。